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產(chǎn)品詳細(xì)頁AT510X6多路電阻測(cè)試儀
簡(jiǎn)要描述:AT510X6多路電阻測(cè)試儀 是一種高精度寬量程、超高掃描速度、采用高性能微處理器控制的多路電阻測(cè)試儀。為您量身定做的多路電阻測(cè)試儀,定制量程,從1μΩ~400KΩ,大顯示3999數(shù)。受益于安柏*的電阻測(cè)量技術(shù),使得多路測(cè)試周期高達(dá)20ms/次,AT510X6 6路電阻測(cè)試儀為您提供每秒鐘高達(dá)120個(gè)器件的測(cè)試。配備Handler接口,將多路測(cè)試結(jié)果同時(shí)輸出給PLC。
- 產(chǎn)品型號(hào):
- 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間:2020-04-07
- 訪 問 量:793
產(chǎn)品介紹
AT510X6多路電阻測(cè)試儀
技術(shù)規(guī)格 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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AT510X6多路電阻測(cè)試儀
性能特征 | |||||||||||||||||||||||||
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應(yīng)用 | |||||||||||||||||||||||||
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